Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

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Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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Artikelnummer 9783527349517
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Autor Wee, Andrew T. S. / Yin, Xinmao / Tang, Chi Sin
Einband Spektroskopie, Werkstoffprüfung, Polymerphysik, Chemie, chemistry, Dünne Schicht, Ellipsometrie, Materials Characterization, Materials science, Materialwissenschaften, Physics, Physik, polymer physics, spectroscopy, Kartonierter Einband (Kt)
Sprache eng
Seiten 208
Verlag Wiley-VCH
Publikationsjahr 20220413

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